Исследование особенностей структуры графеновых слоёв технического углерода методом пэм Conference Abstracts
| Conference |
III Региональная молодежная научно-практическая конференция с международным участием "Актуальные проблемы современной науки" 25-25 Apr 2014 , Омск |
||
|---|---|---|---|
| Source | Актуальные проблемы современной науки: материалы III региональной молодежной научно-практической конференции с международным участием, (Омск, 25 апреля 2014 г.) Compilation, Издательство ОмГТУ. Омск.2014. 172 c. ISBN 9785814917683. РИНЦ |
||
| Output data | Year: 2014, Pages: 36-38 Pages count : 3 | ||
| Tags | просвечивающая электронная микроскопия,технический углерод,протяженность графеновых слоев | ||
| Authors |
|
||
| Affiliations |
|
Abstract:
Методом просвечивающей электронной микроскопии исследованы особенности структуры и морфологии частиц (глобул) образцов технического углерода (ТУ). Проведены измерения средних расстояний ( d 002) между графеновыми слоями и рассчитана их протяжённость в глобулах ТУ.
Cite:
Путинцев В.Ю.
, Тренихин М.В.
Исследование особенностей структуры графеновых слоёв технического углерода методом пэм
In compilation Актуальные проблемы современной науки: материалы III региональной молодежной научно-практической конференции с международным участием, (Омск, 25 апреля 2014 г.). – Издательство ОмГТУ., 2014. – C.36-38. – ISBN 9785814917683. РИНЦ
Исследование особенностей структуры графеновых слоёв технического углерода методом пэм
In compilation Актуальные проблемы современной науки: материалы III региональной молодежной научно-практической конференции с международным участием, (Омск, 25 апреля 2014 г.). – Издательство ОмГТУ., 2014. – C.36-38. – ISBN 9785814917683. РИНЦ
Identifiers:
| Elibrary: | 21612488 |
Citing:
Пока нет цитирований