Исследование особенностей структуры графеновых слоёв технического углерода методом пэм Тезисы доклада
Конференция |
III Региональная молодежная научно-практическая конференция с международным участием "Актуальные проблемы современной науки" 25-25 апр. 2014 , Омск |
||
---|---|---|---|
Сборник | Актуальные проблемы современной науки: материалы III региональной молодежной научно-практической конференции с международным участием, (Омск, 25 апреля 2014 г.) Сборник, Издательство ОмГТУ. Омск.2014. 172 c. ISBN 9785814917683. РИНЦ |
||
Вых. Данные | Год: 2014, Страницы: 36-38 Страниц : 3 | ||
Ключевые слова | просвечивающая электронная микроскопия,технический углерод,протяженность графеновых слоев | ||
Авторы |
|
||
Организации |
|
Реферат:
Методом просвечивающей электронной микроскопии исследованы особенности структуры и морфологии частиц (глобул) образцов технического углерода (ТУ). Проведены измерения средних расстояний ( d 002) между графеновыми слоями и рассчитана их протяжённость в глобулах ТУ.
Библиографическая ссылка:
Путинцев В.Ю.
, Тренихин М.В.
Исследование особенностей структуры графеновых слоёв технического углерода методом пэм
В сборнике Актуальные проблемы современной науки: материалы III региональной молодежной научно-практической конференции с международным участием, (Омск, 25 апреля 2014 г.). – Издательство ОмГТУ., 2014. – C.36-38. – ISBN 9785814917683. РИНЦ
Исследование особенностей структуры графеновых слоёв технического углерода методом пэм
В сборнике Актуальные проблемы современной науки: материалы III региональной молодежной научно-практической конференции с международным участием, (Омск, 25 апреля 2014 г.). – Издательство ОмГТУ., 2014. – C.36-38. – ISBN 9785814917683. РИНЦ
Идентификаторы БД:
РИНЦ: | 21612488 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований