Sciact
  • EN
  • RU

О влиянии доли поверхности углеродного материала, определяемой пористостью, на линейность зарядно-разрядных характеристик двойнослойных суперконденсаторов Научная публикация

Журнал Электрохимическая энергетика
ISSN: 1608-4039
Вых. Данные Год: 2023, Том: 23, Номер: 4, Страницы: 207-216 Страниц : 10 DOI: 10.18500/1608-4039-2023-23-4-207-216
Ключевые слова суперконденсатор, двойной электрический слой, нанокомпозит, технический углерод
Авторы Кутлимуратов Р.А. 1 , Кузнецова А.Р. 1 , Агафонов Д.В. 1 , Суровикин Ю.В. 2
Организации
1 Санкт-Петербургский государственный технологический институт (технический университет)
2 Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа имени Г. К. Борескова СО РАН

Информация о финансировании (1)

1 Министерство науки и высшего образования Российской Федерации 0239-2021-0012

Реферат: Исследованы электрохимические характеристики нанокомпозиционных материалов на основе технического углерода для двойнослойных суперконденсаторов. Показано, что наиболее высокие значения удельных емкостных характеристик были получены для углеродного материала СП4, обладающего наибольшей удельной поверхностью (полная ёмкость 228 Ф/г, обратимая – 162 Ф/г). Полученные в настоящей работе результаты подчеркивают актуальность рассматриваемой проблемы, необходимость продолжения работы для дополнения полученных экспериментальных данных распределения по порам материалов для определения влияния пористости на физико-химические характеристики.
Библиографическая ссылка: Кутлимуратов Р.А. , Кузнецова А.Р. , Агафонов Д.В. , Суровикин Ю.В.
О влиянии доли поверхности углеродного материала, определяемой пористостью, на линейность зарядно-разрядных характеристик двойнослойных суперконденсаторов
Электрохимическая энергетика. 2023. Т.23. №4. С.207-216. DOI: 10.18500/1608-4039-2023-23-4-207-216 РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 7 нояб. 2023 г.
Принята к публикации: 4 дек. 2023 г.
Опубликована в печати: 25 дек. 2023 г.
Идентификаторы БД:
РИНЦ: 56412174
OpenAlex: W4390194997
Цитирование в БД: Пока нет цитирований
Альметрики: