Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов

Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов Conference Abstracts

Conference

VI Всероссийская научная молодежная школа-конференция «Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии"
18-20 May 2020 , Омск

Source

Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии: сборник тезисов докладов VI Всероссийской научной молодежной школы-конференции, 18-20 мая 2020 г., Омск
Compilation, Институт катализа СО РАН. Новосибирск.2020. 246 c. ISBN 9785906376282. РИНЦ

Output data

Year: 2020, Pages: 18-19 Pages count : 2

Authors

Леонтьева Н.Н. ¹ , Черепанова С.В. ² , Дроздов В.А. ¹ , Лавренов А.В. ¹

Affiliations

1	Центр новых химических технологий ИК СО РАН, Институт катализа СО РАН
2	Институт катализа СО РАН

Funding (1)

Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation

46.2.4

Леонтьева Н.Н. , Черепанова С.В. , Дроздов В.А. , Лавренов А.В.
Применение метода 1D моделирования рентгенограмм для исследования дефектных кристаллов
In compilation Химия под знаком СИГМА: исследования, инновации, технологии: сборник тезисов докладов VI Всероссийской научной молодежной школы-конференции, 18-20 мая 2020 г., Омск. – Институт катализа СО РАН., 2020. – C.18-19. – ISBN 9785906376282. РИНЦ

Elibrary:

46488158

Пока нет цитирований