Изучение кислотно-основных свойств поверхности MgAl двойных оксидов методами ЭПР-спектроскопии молекул-зондов Conference Abstracts
| Conference | 
                                    10-я Международная научно-техническая конференция "Техника и Технология Нефтехимического и Нефтегазового Производства" 26-29 Feb 2020 , Омск  | 
                            ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Source | Техника и технология нефтехимического и нефтегазового производства: материалы 10-ой Международной научно-технической конференции (Россия, Омск, 26–29 февраля 2020 г.) Compilation, ОмГТУ. Омск.2020. 372 c. ISBN 9785814929778. РИНЦ  | 
                            ||||
| Output data | Year: 2020, Pages: 191-192 Pages count : 2 | ||||
| Authors |         
                
     | 
                        ||||
| Affiliations |     
  | 
                        
Funding (1)
| 1 | Russian Foundation for Basic Research | 18-33-00131 | 
                        Cite:
                                Юрпалов В.Л.
    ,        Степанова Л.Н.
    ,        Дроздов В.А.
    ,        Бельская О.Б.
    
Изучение кислотно-основных свойств поверхности MgAl двойных оксидов методами ЭПР-спектроскопии молекул-зондов
In compilation Техника и технология нефтехимического и нефтегазового производства: материалы 10-ой Международной научно-технической конференции (Россия, Омск, 26–29 февраля 2020 г.). – ОмГТУ., 2020. – C.191-192. – ISBN 9785814929778. РИНЦ
                    
                    
                    
                    Изучение кислотно-основных свойств поверхности MgAl двойных оксидов методами ЭПР-спектроскопии молекул-зондов
In compilation Техника и технология нефтехимического и нефтегазового производства: материалы 10-ой Международной научно-технической конференции (Россия, Омск, 26–29 февраля 2020 г.). – ОмГТУ., 2020. – C.191-192. – ISBN 9785814929778. РИНЦ
                        Identifiers:
                            
                    
                    
                                            | Elibrary: | 42638247 | 
                            Citing:
                                Пока нет цитирований