Реферат: Методом ИК-спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения исследованы оксидные слои на поверхности металлического алюминия и его сплавов АД-1 и А-5. Идентифицированы колебания поверхностных связей Al–O и Al–OH, а также колебания связей A–-O в структурно-связанных AlO4- и AlO6-группах. Структурная неоднородность поверхностных оксидных слоев определяет их эффективное разрушение при контакте образцов с жидкометаллической эвтектикой In + Ga. Прямыми ЭМ-наблюдениями в камере растрового электронного микроскопа с применением рентгеновского микроанализа исследованы динамика разрушения оксидного слоя, изменение морфологии и состава эвтектического сплава и поверхностных слоев алюминия.

Библиографическая ссылка: Арбузов А.Б. , Дроздов В.А. , Тренихин М.В. , Титов А.Т. , Низовский А.И. , Лихолобов В.А.
Структура и состав оксидной пленки алюминия при ее контакте с жидкой эвтектикой системы In-Ga
Неорганические материалы. 2009. Т.45. №12. С.1441-1445. РИНЦ

Переводная: Arbuzov A.B. , Drozdov V.A. , Trenikhin M.V. , Titov A.T. , Nizovskii A.I. , Likholobov V.A.
Structure and Composition of Aluminum Oxide Films in Contact with the Liquid In–Ga Eutectic
Inorganic Materials. 2009. V.45. N12. P.1346-1350. DOI: 10.1134/S0020168509120073 WOS Scopus РИНЦ CAPlusCA OpenAlex

Даты:

Поступила в редакцию:

12 янв. 2009 г.

Идентификаторы БД:

РИНЦ:

12988507

Цитирование в БД:

БД	Цитирований
РИНЦ	5